蒸気を用いた洗浄技術の開発


半導体用洗浄技術の開発
半導体デバイスなどの微細化に伴い,半導体製造工程における洗浄が問題となっています.我々は水蒸気と水の混合噴流を用いることで,薬品無しで,非常に細かなパターンを洗浄できる装置を開発しています.またレジスト剥離等の研究も行っています.(共同研究:アクアサイエンス株式会社北海道大学金沢工業大学

参考
真田俊之,齋藤隆之,林田充司,斉藤輝夫,山瀬雅男,渡部正夫,「蒸気と水の混合噴流による洗浄技術の開発」,噴流工学, vol.24-3, pp4-10, (2007).
真田俊之,渡部正夫,益子岳史,林田充司,駒野秀男,「蒸気と水の二流体スプレーによる表面洗浄」,空気清浄,47巻5号,pp.31-36,(2010).
真田俊之,林田充司,関映子,「薬液を使用しない低環境負荷型の洗浄技術について」,Material Stage,3月号,pp.99-101,(2010).
NEDO産業技術研究助成事業 報告書(平成18年度平成19年度(最終)NEDO成果事例集プレスリリース

 


超高速で固体壁面や液膜に衝突する液滴
上述した洗浄技術をミクロな視点で見れば,高速で飛翔している液滴を固体壁面や液膜に衝突させることで,実現しています.より詳細な物理を明らかにするために,噴流の構造や,液滴が固体壁面に及ぼす影響などを,実験や数値解析を用いて研究しています.

参考
渡部正夫,真田俊之,山瀬雅男,「固体表面への高速液滴衝突過程の数値解析(キャビテーション発生についての検討)」,日本機械学会論文集B,74巻744号,pp.1717-1724,(2008).
Toshiyuki Sanada, Masao Watanabe, Minori Shirota, Masao Yamase and Takayuki Saito
"Impact of High-speed steam-droplet spray on solid surface"
Fluid Dynamics Research, vol.40, 627-636 (2008).